SAM 401?高端型?主要技術參數(shù):
( 敬請注意:因超聲掃描技術日新月異,以下所列設備最的參數(shù)規(guī)格僅供參考,并非最新;如您需要設備最新的技術規(guī)格表或需要我們定制提供某些硬件配置或軟件功能,請您聯(lián)系對應區(qū)域的銷售人員)
一??機械部分:
1. X/Y 兩軸均為超高速、線性馬達驅(qū)動系統(tǒng), X / Y 軸內(nèi)置磁力機構;
2. 配有防震系統(tǒng)與慣性平衡機構,隔絕在高速掃描過程中振動影響,確保圖像不會因快速掃描而失真;
3. Z 軸行程大于100mm
4. Z軸自動對焦,不僅可以自動對焦到樣品表面,而且同時還可對樣品內(nèi)部任意界面自動對焦; 逐層自動對焦可設定步距,Z-軸探頭按步距從樣品底部開始向上逐層掃描;
5. 掃描范圍:最小0.20 mm ?× 0.20 mm?;最大?>430 mm × 430 mm;?可自定義掃描區(qū)域,可任意輸入或框選掃描面積(正方形,長方形,矩形);同時還能自定義序列掃描,跳過沒有樣品的空白位置;可自動尋找被測樣品的中心位置和樣品邊緣尺寸,自動設定掃描范圍;
6. 最大掃描速率:1,500 mm/s
7. 重復精度:+/- 0.1μm
8. 標準工作水槽尺寸:870 *670 * 70mm 或 870 * 670 * 150mm 或定制加長工作水槽,配置工字形樣品臺
二??電子部分:
1. DPR 500 超聲波接收和發(fā)射器頻率帶寬:500MHz
2. ADC卡采樣頻率:1.25G/秒 ( 2G,5G可選配 )
3. 前置放大器:L2? H2 ( H3 選配 )
支持換能器(探頭)范圍: 1MHz -400Mz 或按產(chǎn)品需求,定制提供探頭頻率和焦距
部分可選項:??
1. ?德國 PVA Hibert Filter- 外置濾波器(軟件開關控制,用于110MHz 以上延遲性探頭使用)
2.前后雙工位系統(tǒng),減少機器停頓時間,顯著提高工作效率
3. ?各種樣品吸盤、夾具定制、半自動化設備升級
4.在不改變掃描機構主體,升級為雙探頭(左右排列或前后排列)、四探頭掃描系統(tǒng),成倍提高掃描效率
4. 專業(yè)圖像處理與計算軟件(空洞率計算和顆粒度分析,不僅適用于超聲波掃描顯微鏡,同時可用于電鏡、光學顯微鏡、?共聚焦顯微鏡、?? X-Ray 等眾多顯微檢測設備)
5、圓柱體、管材樣品檢測旋轉(zhuǎn)裝置
軟件部分:?最新Winsam 8?超聲掃描成像軟件,部分功能介紹:
1. ?主要掃描模式包括:A掃描(點掃描)、B掃描、C掃描、多層C掃描、在不同的Z高度進行連續(xù)的C掃描、多重門限掃描、透射掃描、托盤掃描、、順序掃描、高清晰掃描、表面跟蹤掃描、實體掃描、分頻掃描、覆蓋掃描等;透射掃描模式選件:Through Scan 透射掃描固定單元及接收探頭;
2. 表面穩(wěn)定功能:可消除或減弱樣品表面刻字,激光打標等對樣品內(nèi)部超聲波信號所帶來的影響;
3. 圖像輸出格式:tiff, bmp, jpeg, png 等;? tiff格式能一鍵存儲保存所有的掃描參數(shù),可在下一次掃描時調(diào)用;
4.定量測量功能:X -Y 長度測量、厚度與距離測量、缺陷百分比計算:可根據(jù)樣品的實際輪廓(圓形,矩形,不規(guī)則形)進行缺陷面積百分比統(tǒng)計分析,樣品掃描后可提供缺陷尺寸列表并輸出報告,點擊列表中任一行可顯示該缺陷在掃描圖像上的X/Y 區(qū)域,便于進一步分析和定位缺陷等;
5. 圖像著色功能:根據(jù)相位翻轉(zhuǎn)自動著色;根據(jù)灰度等級手動著色;根據(jù)渡越時間手動著色,根據(jù)厚度變化手動著色(已知材料的阻抗值)
6. ?報告生成:掃描后生成掃描分析報告,報告中包含:最終掃描圖片、各種掃描參數(shù)設置、樣品的A掃描波形圖等;
7.軟件可顯示探頭在水槽中的X/Y/Z三維坐標和當前所設定的掃描范圍;
8.用戶可自主選擇XY軸移動方向、各種探頭回位方式、以何種方式調(diào)用之前掃描保存的圖片來獲得掃描參數(shù)等;
9. 射頻增益窗口:-22dB- 50dB , 更多功能高級菜單設置?
10. 圖像分辨率:≥42000 * 42000 像素?
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專業(yè)工業(yè)控制計算機系統(tǒng)基本配置:
基本配置:CPU 3.5 GHz, Intel 八核處理器,32GB 內(nèi)存,1T硬盤,DVD-RW刻錄光驅(qū),高速圖像卡,Windows 10操作系統(tǒng),USB及網(wǎng)絡接口,1臺或 2臺 27' LCD 液晶顯示器或2臺22寸液晶顯示器, 配置防靜電操作臺